[导评]闪存高温老化测试资料，模拟长时间存储后闪存的数据完整情况
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闪存高温老化测试资料，模拟长时间存储后闪存的数据完整情况
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发表于 2020-5-25 22:09:16
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本帖最后由 拿糖糖换媳妇 于 2020-5-26 08:48 编辑
闪存的pe次数只是指在此次数之内闪存仍能在断电后长时间保存数据，而不是超过次数就出坏块，
pe耗尽的大部分表现为存进去的数据短时间读取校验能通过，但放几天后再校验就会数据出错（这种几天就不行的是严重超出pe次数了），pe次数无法检测的，因此买到什么状态的看运气。
截图来自小程序FFT闪存通（不是做广告，而是因为截图来源的原因，所以需说下，尽量不要问我怎么找这软件）
闪存, 高温, 老化, 测试, 资料
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zzhbeyond
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2#
发表于 2020-5-25 22:19:35
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最好是拿闪存实际测试一下。
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楼主|
发表于 2020-5-25 22:23:17
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zzhbeyond 发表于 2020-5-25 22:19
最好是拿闪存实际测试一下。
工厂进行老化测试也是参考这个计算的
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发表于 2020-5-25 22:37:00
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不理解这些数据的含义，楼主可否科普一下？
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发表于 2020-5-26 01:38:54
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得一微闪存通小程序的内容
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futurestar
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6#
发表于 2020-5-26 07:26:51
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拿糖糖换媳妇 发表于 2020-5-25 22:23
工厂进行老化测试也是参考这个计算的
工厂的测试标准也是从JEDEC STANDARD那建立的:lol:
这个只有研发SSD的厂商才需要做的，对于咱们普通DIY的，跑跑RDT就已经是极限了。做不了更多了
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7#
楼主|
发表于 2020-5-26 08:46:46
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futurestar 发表于 2020-5-26 07:26
工厂的测试标准也是从JEDEC STANDARD那建立的
这个只有研发SSD的厂商才需要做的，对于咱们普通DIY ...
RDT只能抓坏块，不能将老化块(漏电块)全部抓出来，体现在装好系统的固态，几个月不用，读取速度大幅度降低或出现错误。
自己可以高温测试下闪存稳定性，无须太精确的温度，测个大概值起码放心，温度控制器也不贵，不行用100度左右的PTC，其温度稳定性也够用
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发表于 2020-5-26 10:34:56
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我家烤箱最低150°，我烤过1个小时
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alabobandao
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9#
发表于 2020-5-26 11:33:56
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拿糖糖换媳妇 发表于 2020-5-26 08:46
RDT只能抓坏块，不能将老化块(漏电块)全部抓出来，体现在装好系统的固态，几个月不用，读取速度大幅度降 ...
我有个u盘就是几月不用，只是读取降速明显，跑一圈后读取才正常，应该是这个问题？低格能解决？
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大概没人注册
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发表于 2020-5-30 11:49:28
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本帖最后由 大概没人注册 于 2020-5-30 11:50 编辑
谢谢分享，虽然每款闪存老化测试数据库都有些差异，不过这个表够普通爱好者参考了。:praise:
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技术宅小唐
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发表于 2020-6-9 23:40:53
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镁光的L95B标准是122摄氏度6小时模拟 30度3年
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basaiyv
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发表于 2020-6-11 14:20:38
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是不是老化过后,这个颗料就是废了?
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拿糖糖换媳妇
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13#
楼主|
发表于 2020-6-17 17:44:14
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basaiyv 发表于 2020-6-11 14:20
是不是老化过后,这个颗料就是废了?
不是的，老化后才知道闪存靠不靠谱才能放心用，工厂一般都是老化测试后出货提高良品率
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暗黑狂龙
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发表于 2020-6-17 20:48:25
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测颗粒漏电必备
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